アジレント・テクノロジー
光・高速デジタル・ソリューション・フォーラム開催のご案内

会場:アジレント・テクノロジー 八王子事業所 会期:2013年10月29日(火)~30日(水) 13:10~


■開催概要

情報量の拡大を背景にしたネットワークおよびデータ・センタの超高速化により、10Gbpsクラスから25/28Gbpsへのチャレンジが始まっています。 またあらゆる機器においてもPCI ExpressDDRメモリなどのGbpsを超える各種インタフェースが手軽に利用できるようになってきている一方で、あらかじめ高速信号に対応した設計開発、評価検証、コンプライアンス試験等の準備が求められてきます。

 今回は、既存の設備の有効活用や新規設備の導入でお悩みのエンジニアの方を対象に、どのような機材を用いてどのような評価検証が必要になるのか分かりやすくご紹介させていただきます。

ご多忙のこととは存じますが、万障お繰り合わせの上、ご来場賜りますようお願い申し上げます。

日時

 10月29日()  13:10~17:25  10G32Gbps測定ソリューション・セミナ

 

 10月30日()  13:10~17:10  高速デジタル測定ソリューション・セミナ

   

   ※受付:両日程とも、12:30から開始します。

会場

 会場:アジレント・テクノロジー 八王子オフィス

 住所:東京都八王子市高倉町9番1号

 交通: JR中央線八王子駅よりJR八高線利用、1つ目の北八王子駅下車徒歩1分

受講料

 無料(事前申込制)

申込締切

 定員になり次第締め切らせていただきます。お早めにお申し込みください。

 ※同業他社の方のご参加は、お断りさせていただく場合がございます。

定員

 各日程 100

主催

 アジレント・テクノロジー株式会社 電子計測本部

お申込に関する
お問合先

 アジレント・テクノロジー株式会社 セミナ事務局
 e-mail:agilent@cgc.co.jp

以下のボタンを押して申込サイトからお申込み下さい。

→ お申し込みはこちら

■資料ダウンロードは、 こちら

■セミナ及び実機デモ・スケジュール
 1029() 
_10G~32Gbps測定ソリューション・セミナ

 1030() 高速デジタル測定ソリューション・セミナ

■セミナ及び実機デモ・概要

Ø  このフォーラムでは、 「セミナ会場」 と 「実機デモ会場」の2つの会場がございます。

Ø  セミナ会場では座学形式の各テーマに沿ったセミナが、実機デモ会場では関連ソリューションの
 実機デモンストレーションが同時並行で行われています。

Ø  会場間は自由に行き来ができ、セミナと実機デモを自由に組み合わせてご覧いただけます。

      例えば、セミナ会場にてセミナを受講いただいた後に、その関連する測定ソリューションの実機デモを実機デモ会場にてじっくり
   ご覧いただくことが可能です。

Ø実機デモの時間は各20分で、セミナの各セッション45分間に同じ内容を2回行います。

Ø実機デモ/展示閲覧は申込みが必要ありませんので、ご自由にご参加ください。

Øセミナと実機デモを組み合わせて、以下のようなご参加方法もございます。

10G32Gbps測定ソリューション・セミナの場合

参加例1) 所有しているオシロとBERTが古くなってきた。
                    最新情報が知りたいが、オシロと
BERTに関しては、セミナだけじゃなく、実機も見てみたい。

高速デジタル測定ソリューション・セミナの場合

参加例2)USBDDRに関しては、セミナだけじゃなく、実機デモも、しっかり見ておきたい。

参加例3)「現状の設備でコンプライアンス・テストが可能か知りたい。特にHDMIPCIeについて」

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■セミナ及び実機デモ・スケジュール
 1029() 
10G32Gbps測定ソリューション・セミナ

セミナ会場

実機デモ会場

12:30

 受付

 

実機デモ会場では、セミナに関連する実機の展示、及び実機デモを行っておりますので、ご覧ください。

 

実機デモの時間は各20分で、セミナの各セッション45分間に、同じ内容を2回行います。

13:1013:40

セッション1:100GbE,OIF-CEIから読み解く、
        
10G25/28Gbpsの超高速伝送評価における課題

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
川上育夫

光デバイスの評価、ケーブルやフィクスチャのde-embedの必要性、イコライザのエミュレーションやその最適化、マルチレーン対応など、10Gbps超の伝送では高速化にともなう課題がでてきます。100GbEOIF-CEIに規定されている仕様項目を参照しながら、超高速伝送の評価における課題について総論します。

13:4014:10

セッション2正確なDe-embeddingのための
        
Sパラメータ抽出モデリングノウハウ

エルメック株式会社 技術担当取締役 開発グループマネージャ 
亀谷 雅明様

例えば32Gbpsの高速伝送では、基本波の周波数が最大16GHzになります。このような高周波数領域では、従来の治具設計手法では、よい結果が得られません。設計段階から、正確な治具のDe-embeddingすることを前提とした設計手法を取り入れることが重要です。このセッションでは、シミュレーションと実測を一致させるためのシミュレーションにおけるモデリングノウハウを実測結果を例に出しながら説明します。

休憩

プロダクト・フェア

14:2515:10

セッション3必見!高速伝送評価におけるDCA活用テクニック

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
鈴木 英行

高速伝送測定で役立つ、最新のDCA機能をご紹介いたします。AOCCFPなどの光/電気インターフェースの開発・製造における評価コスト削減の課題を解決する便利な新機能をご説明します。また、ネットワークアナライザーやTDRで取得したS-ParameterDe-embed/Embedを行うDCAのシミュレーション機能も紹介し、開発工程の短縮化に貢献する活用術をご説明します。

実機デモ対象製品

EDA製品

BERT製品

光測定器 製品

休憩

プロダクト・フェア

15:4016:25

セッション4従来のBERTでは限界!?
       超高速伝送における最新レシーバ評価ソリューションとは

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
竹嶋 茂樹

psから数10psしかジッタマージンのない1025/28Gbpsで、レシーバのジッタ耐性をどう評価していますか?どこまで伝送路を伸ばしても大丈夫か、イコライザの調整は最適か?そのような、伝送ロスの課題に効果的なBERTの使い方ができていますか?マルチレーン伝送におけるクロストーク評価は、どのようにされていますか?本セッションでは、1025/28Gbpsのレシーバ評価で必要とされる評価環境について、アジレントの最新ソリューションをご紹介します。

実機デモ対象製品

オシロスコープ製品

EDA 製品

光測定器製品

休憩

プロダクト・フェア

16:4017:25

セッション5超高速伝送における最新光測定ソリューション

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
山口 修司

最新の20Gを超える超高速光・電気インタフェースでは、電気端での波形、BER評価だけでなくOE/EO変換部や光伝送路の特性評価を行うことが重要です。本セミナでは光送信機、光受信機の周波数特性評価に最適な光コンポーネントアナライザや、マルチモード光伝送時に重要となるモード忠実度に優れた光アッテネータなど、最新光測定ソリューションを幅広くご紹介します。

実機デモ対象製品

オシロスコープ製品

EDA製品

BERT製品

17:25

 

プロダクト・フェア

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1030() 高速デジタル測定ソリューション・セミナ

セミナ会場

実機デモ会場

12:30

 受付

実機デモ会場では、セミナに関連する実機の展示、及びデモを行いますので、ご覧ください。実機デモの時間は各20分で、セミナの各セッション45分間に、同じ内容を2回行います。

13:10 13:55

セッション1:USB3.0テストにAgilentソリューションが最適な理由

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
佐貫 聡信

USB3.0の規格と評価のポイント、およびアジレントソリューションのメリットについて、実例とともにご紹介します。

実機デモ対象製品

PCIe関連製品

DDR関連製品

Display関連製品

休憩

プロダクト・フェア

14:10 14:55

セッション2PCI Express 最新測定ソリューション

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
荒井 信隆

PCI Express Gen1/Gen2/Gen3の規格概要と測定の勘所、必要となる測定器、およびアジレント測定ソリューションの最新情報をご紹介します。

実機デモ対象製品

USB関連製品

DDR関連製品

Display関連製品

休憩

プロダクト・フェア

15:25 16:10

セッション3DDRメモリ初めての評価と事例から学ぶトラブルへの備え

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
福本 拓司

多くの開発者が利用するDDRメモリ評価のテスト環境とメモリトラブルの原因を発見するのに便利な測定機材の使い分けを、開発者が直面したトラブルの解決事例を交えてご紹介します。

実機デモ対象製品

USB関連製品

PCIe関連製品

Display関連製品

休憩

プロダクト・フェア

16:25 17:10

セッション4ディスプレイ系インタフェース 最新測定ソリューション

弊社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 
今岡 淳

HDMIDisplayPortMHLMIPI等のディスプレイ系インタフェースについて、各信号の測定の勘所、必要となる測定器、およびアジレント測定ソリューションの最新情報をご紹介します。

実機デモ対象製品

USB関連製品

PCIe関連製品

DDR関連製品

17:10

 

プロダクト・フェア

*記載内容・開催時間は会場・事情により変更になる場合がございます。予めご了承下さい。

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