アジレント・メジャメント・フォーラム AMF2012 セミナ資料 無料ダウンロード

ミニセミナ、コンセプト展示の配布資料はこちら

Day1 : 6月19日(火)  
時間帯1

テキスト
ダウンロード

[1B1] 12:45~13:35
最先端メモリ実装でのSI/PI/EMIシミュレーションの活用事例
DDR3に代表されるメモリの実装では、帯域を広げるための高速化と消費電力を抑えるため低電圧での高速動作が要求されます。 さらに小型化とコスト削減の両立も求められます。これらを実現するため、設計者は部品、配線、パッケージに対してTDRやVNAによる測定だけでなく、設計の早い段階から各種電磁界解析(FEM、FDTD、Mom)、最新のシミュレーションモデル(IBIS-AMI)を使い分けて解析することが要求されます。 本セッションでは、AgilentのEDAツールを利用したDDRメモリの設計例について、実測とシミュレーションとの比較を交えご紹介します。
Sr. Application Expert with the EEsof EDA division of Agilent Technologies  Hany Mohamed Fahmy
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1F1] 12:45~13:35
【基調講演】見えてきたWiSUN  -スマートグリッドを担う無線規格の最新動向-
省エネルギー社会に向けたスマートグリッド/スマートユーティリティネットワークの実現において、電気・ガスメータ等の自動検針と管理は不可欠なパーツであり、こうしたスマートメータを無線接続で実現するために多様な技術の可能性が討議されてきた。本セッションでは小電力無線全体の技術動向についてお話しし、特に米国IEEE802委員会で本年、2月および3月に標準化が終了したIEEE802.15.4e/4g および、その標準化を支えるWiSUN (wireless smart utility network)について、標準化動向や問題点、今後の展望について解説する。
独立行政法人 情報通信研究機構 ワイヤレスネットワーク研究所 スマートワイヤレス研究室 室長  原田博司 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1G1] 13:00~13:50
Xilinx 28nm 最新FPGAで実現する1866Mbps DDR3 SDRAMインタフェース
機器の機能・性能が向上し高速化が進む中、高速なメモリインタフェースは非常に重要な役割を担っている一方で、その動作スピードは年々向上し設計の難易度はますます高くなってきている。東京エレクトロンデバイスでは各種のFPGA・メモリインタフェースボードを開発しており、本セッションでは現在主流のDDR3 SDRAMインタフェースを実現する上での最新FPGAキーテクノロジやボード設計時のノウハウ・注意事項などを関連するソリューションと共に紹介する。
東京エレクトロンデバイス株式会社 ソリューション事業統括本部 PLD事業部 PLDソリューション部 ソリューショングループ 天野泰典 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1D1] 13:00~13:50
GaN系パワー素子の技術トレンドと今後の課題
近年、省エネのためのパワー半導体素子が注目されています。とりわけワイドバンドギャップ半導体であるGaNやSiCを用いた素子は従来のSi系素子と比べ優れた特性を示すと期待されています。GaN系素子においてはノーマリーオフ動作や電流コラプスなどが課題とされています。本セッションではこれらの課題に対する各機関からの技術動向を紹介するとともに、当社が開発を進めている素子についてB1505Aを用いた評価結果も示し紹介します
株式会社パウデック 技術開発グループ  主任 理学博士 八木修一 様
公開できませんので
ご了承ください
[1C1] 13:15~14:05
【基調講演】 アセッサから見たEMCサイト・測定設備の維持・管理について
現在自社の製品のEMC性能を確認するために多くの企業がEMC測定設備を有しており、 認定サイトに限らず試験結果の信頼性の検証要求が高まってきている。 本セミナでは試験結果の信頼性の維持・向上を図るためのEMC測定設備の管理について 説明いたします。
一般財団法人 日本品質保証機構 総合製品安全部門 品質・技術推進室(JQA)  参与 羽田隆晴 様
公開できませんので
ご了承ください
[1A1] 13:15~14:05
製品化が進むWiGig/11adとミリ波測定の最先端
Wireless LANの更なる高速化、CDやDVDのキオスク・ダウンロードなどの需要の高まりを受け、 60GHz帯を利用し近距離でのギガビット無線を実現する""WiGig""の注目が高まってきています。 2011年10月には相互接続性のテストをするPlugfestも実施されました。 本セッションでは、WiGigの最新の動向や、テストソリューションについてご紹介します。 またアンプ・ミキサといったミリ波部品の測定手法についてもご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 井上賢一
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯2  
[1B2] 13:50~14:40
ICへの電源電圧揺れていませんか?ピタリと止めるPI最新評価手法
『FPGAやメモリ、MPU等、高速デジタルICを、基板上で動作させると正常に動かない!?ICに供給される電源電圧をオシロでモニタすると揺れている!バイパスコンデンサを過剰に載せて一応動くようになったけど、いつまでも不安。』そんな電源対策していませんか?本セッションでは、電源電圧変動の原因『電源インピーダンス』の革新的な実測手法をはじめ、電源用LCフィルタの測定、リニアレギュレータのPSRR測定、電源電圧変動のシミュレーション手法など、電源電圧変動抑制に『効く』手法をご紹介!安定した電源設計の実現をお手伝いします。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 大津谷亜士
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1F2] 13:50~14:40
オシロの波形がおかしい!   - 高速基板をTDRとSパラで評価する
高速デジタル基板の伝送路評価にはTDRオシロスコープが広く用いられてきました。しかし、インピーダンス測定だけで十分な評価といえるでしょうか?本セミナでは基板設計エンジニアを対象に、インピーダンス、Sパラメータと波形劣化の関係をわかりやすく解説し、最新のネットワーク・アナライザで可能となった、Sパラメータ・TDR測定、波形シミュレーションをシームレスに行う新しい評価手法を、実例を交えて説明します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 松尾道夫
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1G2] 14:05~14:55
高性能FPGA/DDR組込システム開発事例に学ぶデバッグ手法の勘所
高性能FPGA/DDR組み込みシステムは再構成可能なため、ひとたびトラブルが発生すると、どこから手をつけてよいか分からなくなるほど複雑になってきています。本セッションではDDR3搭載Kintex FPGA評価ボードを例に、トラブルが発生しやすい電源やDDRメモリ周りの測定方法、FPGAの実機検証手法など、押さえておくべきポイントをわかりやすく紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 竹中慎吾
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1D2] 14:05~14:55
ルネサスエレクトロニクスのZigBeeソリューションと設計事例のご紹介
スマート社会を実現するための無線通信機能の1つとして、ZigBeeは注目されています。 ルネサスは、ZigBeeを利用したネットワーク構築をサポートするために、IEEE802.15.4対応の通信機能を搭載したマイコン(M16C、R8C、78K0R)を製品化して います。また無線通信評価を実施するための評価ボードやプロトコルスタックなどの評価環境もご提供しています。本講演ではルネサスのZigBeeソリューションをデモセットや設計事例を交え、ご紹介致します
ルネサス エレクトロニクス株式会社 MCU事業本部 汎用MCUシステム統括部 民生MCUシステム技術部 技師  福岡淳 様
公開できませんので
ご了承ください
[1A2] 14:20~15:10
ハイパワー・高精度解析を両立 -パワー・デバイス解析ソリューション
数10A、数1000V以上のハイパワー測定と、1mΩ以下のOn抵抗測定といった微小測定の両立が必要なパワーデバイスの評価においては、両立可能な手頃なソリューションが存在せず、評価における妥協をせざるを得ないというのが実情のようです。 本セッションではアジレントの最新のパワーデバイス対応のソリューションを、その技術的背景とともにご紹介いたします。
アジレントテクノロジー・インターナショナル 半導体パラメトリックテスト事業部 開発部 柿谷寿生
公開できませんので
ご了承ください

お問い合わせ

時間帯3  
[1C2] 14:55~15:45
デジタルIFによるEMIレシーバの技術革新とCISPR規格のおさらい
近年主流となるEMIレシーバはスペアナとレシーバが一体型となっています。そのレシーバの構造や動作を理解しなければ正しい測定結果を得ることができません。IFセクションがデジタル化され、確度や速度など大幅な改善がされています。デジタルIFを持つレシーバとアナログIFを持つレシーバとの構造比較、実測定比較例を紹介します。また測定エンジニアが避けて通れないCISPR規格概要アップデートも含めて紹介いたします。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 池原司益
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1F3] 14:55~15:45
近距離無線システム用60GHz帯ミリ波IC設計事例
コンテンツの大容量化に伴い、モバイル端末においてもギガビット伝送の要望が増大している。低遅延HD伝送用途として既にWirelessHD規格の商品が量産されているがモバイル端末で使用するための更なる小型で低消費電力なミリ波ICの開発が望まれている。本講演では、ミリ波モバイル無線の想定ユースケース及びミリ波IC及びモジュールの設計事例について解説する。
パナソニック株式会社  東京R&Dセンター 通信コアデバイス開発センター 無線デバイス開発グループ 開発第一チーム  斉藤典昭 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1B3] 15:10~16:00
【基調講演】 チップ・パッケージ・ボードの統合PDNによる電源ノイズ制御と伝搬抑制
これまでのボードのPDN(電源インピーダンス)だけでは顕在化できないチップ・パッケージの反共振問題を議論するためには、チップ自身のPDNも反映させた統合PDNを正確に把握することが不可欠になってきた。このとき、おおまかな目安として、一定値のターゲットインピーダンスを設計目標としてきたが、適正なマージン設計するには、LSIのスイッチング動作時の電源電流成分を考慮した新たなターゲットインピーダンスの考え方が必要となる。本セミナーでは、このような新たな考え方による電源ノイズ制御と、EBG構造によるノイズ伝搬抑制について紹介する。
芝浦工業大学 工学部電子工学科 教授 工学博士  須藤俊夫 様
公開できませんので
ご了承ください
[1D3] 15:10~16:00
明日から測れるスマートメータ
すでに欧州、米国での普及が始まっているスマートメータは今後日本でも急速に普及されることが見込まれています。スマートメータは無線通信機能が組み込まれていますので無線の評価が必要となります。本セッションでは、スマートメータ向けで検討されている無線規格と日本における動向、および、その規格の評価方法についてご紹介するとともに、日本のスマートメータ規格測定を行う上でどのような測定器が必要で、それぞれの測定器はどのような仕様を満たしている必要があるを解説します。これからスマートメータを開発・評価するエンジニア必見の内容となっています。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 田中賢悟
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1G3] 15:25~16:15
これで完璧!DDR規格の正しい理解と最新の評価手法
高性能なシステム実現に不可欠なDDRメモリですが、高速化によってトラブルも増加しており、波形確認はもはや常識となっています。では、信号をどう評価したらよいのでしょうか?トラブルが起きても困らないためには、規格を正しく理解し、測定のポイントをおさえておくことが重要です。本セッションでは、JEDECのDDRメモリ規格をわかりやすく解説し、測定のポイントと、測定・評価を簡単に行う最新のソリューションをご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 佐貫聡信
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1A3] 15:25~16:15
カーブトレーサによるパワーデバイス解析の落とし穴と効果的対応
ハイパワーデバイスの評価においては、カーブトレーサを用いた対応が一般となっていますが、On抵抗評価における高電流・微小測定の両立、ブレーク・ダウン評価における破壊経緯のモニタ、容量測定への対応など問題点が満載です。 本セッションでは、パワーデバイスを正確にしかも効率的に評価するためのソリューションおよび、測定ノウハウを実例を交えながらご紹介いたします。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 藤澤宏行
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯4  
[1C3] 16:00~16:50
EMIレシーバ“MXE” と ソフトウエア EP7によるEMI測定時間半減のご提案
製品が複雑化するにつれ、EMC試験に長い時間を要するようになってきました。 従来のEMI測定システムに対し、測定精度の信頼性を維持したまま、測定時間を 半減させることが可能です。実際の測定シーケンスに基づき、測定時間半減のソリューションを紹介いたします。
株式会社 東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部  嶋田翔太 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1F4] 16:00~16:50
【基調講演】 CMOSでミリ波回路を実現 -最新技術動向と今後必要とされる技術について
近年、ミリ波帯利用技術の研究開発が活発化している.従来より、ミリ波は高速な無線通信やレーダー、イメージングに利用されている. 以前はGaAsなどの化合物半導体の利用が主であったが、半導体技術の改善により、安価なCMOSトランジスタがミリ波でも十分に動作するようになっており、それが今日のミリ波利用の一大ブームの大きな要因ともなっている. 本講演では、ミリ波帯での無線アプリケーションについて概説し、回路や実装技術についての側面から今後新たに必要となる技術の動向についても解説する.
東京工業大学 大学院理工学研究科 電子物理工学専攻 准教授 岡田健一 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1B4] 16:15~17:05
最新デスクトップ近傍界スキャナを用いたノイズ対策/アンテナ設計手法の紹介
近年増加しつつある通信モジュールの実装設計で問題となるノイズ対策に有効な、卓上で使用できるプローブアレイ方式の放射パターン測定を紹介します。 従来方式に比べて高速に測定でき、筺体のどこに配置すれば良いかなどノイズの対策に大変有効な手法です。 本セミナーでは、パッチアンテナ使った事例紹介を用い、電磁界シミュレータでのシミュレーション結果と比較しながら活用することにより大幅な開発工数の削減ができることをご提案いたします。
株式会社東陽テクニカ EMCマイクロウェーブ計測部 課長/ソリューションアドバイザ 衛藤正悟 様
ダウンロード
(要ログイン)
[1D4] 16:15~17:05
見えてきた次世代高速無線:11acの規格と測定
現在のネットコンテンツにおける動画の割合は急速に増加しており、、その動画もますます高精細化されてきています。その結果大容量のデータを扱くことが多くなり、一人のユーザが 通信を占有する時間が長くなった結果、”つながらない”という現象が発生するケースが増えつつあります。 また、スマートフォン、ノートPCの普及を筆頭に、携帯電話、携帯端末、テレビ、カメラ、車載エンターテイメントシステム等、さまざまな機器への無線LAN搭載比率が爆発的に加速し 同時に複数のユーザが無線LANを使用するケースが急増した結果、やはり”つながらない” 発生するケースが増えつつあります。 このような問題を解決できる能力をもった次世代無線LAN規格、11acとは何か? 本セッションでは11acの規格概要から測定手法そしてソリューションまでをご紹介させていただきます。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 杉山裕之
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1G4] 16:30~17:20
デバッグを100倍楽に!MSOとロジアナは、こう使いこなせ!
デジタルシステムのデバッグにおける最大の課題は、問題の原因になかなかたどり着けないことです。しかし、特別なことをしなくても、今ある測定器を使いこなすことでデバッグが楽になることは意外と知られていません。 本セッションではデバッグを100倍楽にするオシロスコープ、ミックスド・シグナル・オシロスコープ(MSO)、ロジック・アナライザ(ロジアナ)の、知っていればすぐに役立つ新しい使いこなし方をご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 菊地秀
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[1A4] 16:30~17:20
実動作状態でのTDRインピーダンス測定ができる!    - 最新の設計評価手法
デジタル信号の高速化によりデバイスと伝送路の不整合による多重反射の影響が顕在化してきており、今まで測定が困難であった動作状態でのデバイスの特性測定を行うニーズが高まっています。 また、オシロスコープに実装された観測点移動機能において伝送路特性だけではなく受信ICの特性を与えることにより精度向上が図れるため、動作状態でのデバイスの特性測定が重要になってきます。 本セッションでは動作状態でのデバイス測定の紹介を行うと共に、観測点移動の基本動作をシミュレータを用いながら解説し事例紹介を行います。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 青木秀樹
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯5  
[1F5] 17:05~17:55
ADS2012 What's New - 熱と回路の連成解析と操作性の向上-
高効率なパワーアンプ設計では熱の影響を加味した回路、構造設計が必要です。従来の熱解析シミュレータでは、解析できるデバイス構造に制限があったり、熱解析の結果をマニュアル操作で電気回路解析ツールに反映して特性を確認していたため、素子数が多い場合に煩雑な作業が発生していました。 ADS2012では多くの操作性の向上を実現していますが、新機能の1つが、熱解析と回路解析の練成解析です。任意の材質(GaN、GaAsやシリコン基板など)に対応しており、デバイス構造もユーザが定義できます。また、ヒートシンクがついた状態での熱平衡状態のPAEの解析や、LTEなどの実変調波形による熱の影響を含んだ時間軸解析や、複合材料の基板での熱・回路連成解析が可能になります。 熱の影響を含んだ回路動作状態での回路特性の最適化が可能になり、より高効率なアンプの設計に寄与します。
弊社 電子計測本部 第3営業統括部EDAアプリケーションエンジニアリング 橋本憲良
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ


Day2 : 6月20日(水)  
時間帯1

テキスト
ダウンロード

[2D1] 10:00~10:50
HDMI 1.4b測定の勘所と HDMI最新動向
デジタル家電の分野にとどまらず、携帯機器、PC、産業用/業務用機器等の幅広い機器に搭載されるHDMIを、これから採用するお客様をターゲットにHDMI 1.4b規格の概要と測定技術ご紹介します。 さらにはHDMI Forumで議論が進むHDMI次期規格を支えるアジレントの計測技術について、データ帯域の拡張に伴い必要となる高性能オシロスコープ、パターンジェネレータ、ネットワークアナライザ等がもたらすメリットについてもご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 今岡淳
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2A1] 10:00~10:50
製品化が進むWiGig/11adとミリ波測定の最先端
Wireless LANの更なる高速化、CDやDVDのキオスク・ダウンロードなどの需要の高まりを受け、 60GHz帯を利用し近距離でのギガビット無線を実現する""WiGig""の注目が高まってきています。 2011年10月には相互接続性のテストをするPlugfestも実施されました。 本セッションでは、WiGigの最新の動向や、テストソリューションについてご紹介します。 またアンプ・ミキサといったミリ波部品の測定手法についてもご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 井上賢一
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2B1] 10:15~11:05
【基調講演】4G世界ケータイを創る:課題の先に見えるマーケット英語での講演、逐次通訳あり
Key Note SpeechCreating the 4G “World Phone”: Assessing the opportunities and technical challenges

LTEのサービスが始まり、4Gへの進化へ向けたLTE-Advancedの開発が急ピッチで進められていますが、果たして4Gへ向けた道筋は明るいと思われますか?4Gの世界で本当の”World Phone”を開発するために何が必要なのでしょうか?本セッションでは、4Gにおいて”World Phone”の実現を牽引する市場背景とテクノロジーを概説し、世界の携帯電話業界かどのように課題を乗り越えようとしているかを解説します。議論の焦点として、キャリア・アグリゲーション技術と周波数帯の確保、マルチバンドと高度化MIMOの両立、MIPI規格の展開にみる無線デバイス内部の進化および長寿命バッテリーとそのテストについて触れる予定です。
With the arrival of LTE in world cellular markets and its continued developments in LTE-Advanced for 4G what are the prospects for the development of a true 4G “World Phone”? This session will outline the key market and technical drivers that will shape the way the cellular industry responds to this challenge. Topics covered will include spectrum aspects including carrier aggregation, multi-band support including the impact on MIMO antenna design, the evolution of MIPI standards for internal communications within mobile devices and finally some thoughts on battery drain and testing.
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2F1] 10:30~11:20
設計の肝は誘電率にアリ。様々な試料に使える複素誘電率、透磁率測定
正確な複素誘電率の値は電子部品、回路設計に必須です。複素誘電率、透磁率測定をより正確に測定することは、シミュレーション精度を高め、製品開発時間の短縮につながります。ソリューションパートナー会社のプロダクトとともにアジレントで長年培ってきた電子材料測定技術をまとめて紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 戸高嘉彦
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯2  
[2D2] 11:05~11:55
最先端 28nm FPGA による 高速シリアル10Gbps超バックプレーン通信の最適化技術
システム帯域幅の増大に伴い、高速シリアル通信を実現するトランシーバ(SERDES)は今やFPGAにおける最も重要なブロックのひとつになっています。 本セッションでは、アルテラ社の最先端28nm FPGA に搭載されたトランシーバの特徴と利点を、10GBASE-KRをターゲットとした実機デモを交えて紹介します。 さらに、高速伝送路の設計生産性を向上させる検証ツールや各種モデルなど、高速トランシーバを用いた設計に役立つ最新情報もお届けします。
日本アルテラ株式会社 応用技術部 渡辺 隆文様 マーケティング部 橋詰英治 様
公開できませんので
ご了承ください
[2A2] 11:05~11:55
オシロの波形がおかしい!   - 高速基板をTDRとSパラで評価する
高速デジタル基板の伝送路評価にはTDRオシロスコープが広く用いられてきました。しかし、インピーダンス測定だけで十分な評価といえるでしょうか?本セミナでは基板設計エンジニアを対象に、インピーダンス、Sパラメータと波形劣化の関係をわかりやすく解説し、最新のネットワーク・アナライザで可能となった、Sパラメータ・TDR測定、波形シミュレーションをシームレスに行う新しい評価手法を、実例を交えて説明します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 松尾道夫
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2B2] 11:20~12:10
これで納得!LVDS評価の基礎技術
これからLVDS設計および評価を始める方が対象です。基本的な内容となります。ディスプレイインターフェースとして普及してきたLVDSですが、信号伝送の高速化とともに現在では幅広い分野で応用されています。本セッションでは、LVDSおよび高速差動信号伝送と関連技術を概観するとともに、評価に必要となる基本的な測定手法の解説を行ないます。測定手法については、時間軸・周波数軸を問わず、最新の手法も含めた幅広い話題を提供します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 小室行央
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2C2] 11:20~12:10
今から始める無線LAN:11a/b/g/nの規格整理
IEEE802.11で規定される無線LANは高速の近距離無線としてすでに最も普及しているシステムと言えますが、ここ数年Smartphoneの普及に伴い更に市場が拡大しています。 また、2012年中にはIEEE802.11nをベースにギガビット化を図るIEEE802.11acが策定予定です。本セッションでは無線LANの基礎である802.11a/b/gと802.11acのベースとなる技術を用いる802.11nの規格概要や物理層の仕様、試験方法をわかりやすく説明します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 栗山有美
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2E1] 11:35~12:25
LTEの基礎とLTE-Advancedの概要
日本でもLTEのサービスが開始されましたが、その進化版であるLTE-Advancedのサービス開始も数年後に迫ってきています。このセッションでは既にもしくはこれからLTEの開発評価に携わる技術者がLTEの基礎とLTE-Advancedの概要を理解頂くことで、将来を見据えた製品開発や計測機器の選定に役立てられることを目指します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 森下幹夫
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯3  
[2D3] 12:45~13:35
【基調講演】 エクサビット情報社会の実現に向けた光通信技術の新たなる挑戦
今から20年後の光ファイバ1本あたりの情報通信量は、少なくても今日の1000倍、ペタからやがてエクサビットを必要とするといわれている。しかし今のところこれを実現するための光通信ハードウェアの革新的技術は存在しない。それを実現するために、日本では産学官連携のもとEXATと呼ばれる研究組織が、新たな技術に挑戦し始めている。欧米もことの重要性を認識し、OFCや ECOCでは光通信インフラの飛躍的な高度化関する報告が大変多くなってきている。本講演では、多値コヒーレント光伝送技術、空間多重としてのマルチコアファイバ、さらにマルチモードの制御技術を中心に、今起ころうとしている光通信技術のパラダイムシフトについて述べる。
東北大学 電気通信研究所 所長 中沢正隆 様
公開できませんので
ご了承ください
[2A3] 12:45~13:35
~本当の波形を観る~実測不可点の波形観測を実現する観測点移動技術とDDR3デバッグへの活用
高速デジタル信号は、信号の高周波化やパッケージの大型化により伝送経路の反射と減衰の影響を受けやすくなっており、PCB上の実測波形がLSI端の波形と大きく乖離します。実際に信号を受信するLSI端の波形を正しく観測できないため、信号品質の検証やトラブル時のデバッグが困難になりつつあります。 そこで、シミュレーション/実測により伝送経路の伝達特性を抽出し、PCB上の実測波形からLSI端の波形を高精度に推定する技術を開発しました。オシロスコープの解析機能を活用したリアルタイム観測環境の構築や、DDR3のデバッグへの適用事例も交えて紹介します。
パナソニック株式会社材料・プロセス開発センター基盤技術開発G デジタルEMC開発チーム 木下智博 様
公開できませんので
ご了承ください
[2B3] 13:00~13:50
DisplayPort の測定手法と最新情報 ~eDP, iDP, MYDP~
今年度は、DisplayPort v1.2 のコンプライアンステスト及びロゴ認証プログラムが開始されます。また、関連する派生規格(eDP, MYDP など)について、実用段階に入ったものから新しく策定されるものまでアプリケーションは多様な展開を見せています。これらの規格の動向について最新情報のアップデートをご紹介します。また、 HBR2 = 5.4Gbps のコンプライアンステストの測定方法やプロトコル解析など、新しい測定方法について、内容や事例をご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 長嶺銀河
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2C3] 13:00~13:50
大丈夫ですかその測定?   測定治具の最新評価法と補正法
測定器と電子部品などの被測定物間に介在する治具。その影響はどの程度なのか、それをどのように補正したらよいのか、補正をかけさえすれば本当によいのか、はエンジニアにとってしばしば悩む問題であります。いかに高性能の測定器を使用しても、治具や補正法に問題があれば測定は台無しになるからです。このセミナではこれから電子回路/部品評価をされる方を対象に、治具の評価法と適切な補正の方法をご紹介いたします。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 石井幹
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2E2] 13:15~14:05
わかるSATA Gen3評価
従来のSATA Gen1/2から、近年のSSD採用の加速によってSATA Gen3へのステップアップが求められています。 本セッションではSATA Gen3対応を考えるエンジニアを対象に、Gen3より追加された物理層試験項目、プロトコルと波形双方から追うシステムデバッグ、Hot-TDRによるSATA基板改善法など事例を交えて解説します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 坂田健
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2F3] 13:15~14:05
見えてきた次世代高速無線:11acの規格と測定
現在のネットコンテンツにおける動画の割合は急速に増加しており、、その動画もますます高精細化されてきています。その結果大容量のデータを扱くことが多くなり、一人のユーザが 通信を占有する時間が長くなった結果、”つながらない”という現象が発生するケースが増えつつあります。 また、スマートフォン、ノートPCの普及を筆頭に、携帯電話、携帯端末、テレビ、カメラ、車載エンターテイメントシステム等、さまざまな機器への無線LAN搭載比率が爆発的に加速し 同時に複数のユーザが無線LANを使用するケースが急増した結果、やはり”つながらない” 発生するケースが増えつつあります。 このような問題を解決できる能力をもった次世代無線LAN規格、11acとは何か? 本セッションでは11acの規格概要から測定手法そしてソリューションまでをご紹介させていただきます。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 杉山裕之
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯4  
[2A4] 13:50~14:40
LTE端末開発テストの実際 - RFからプロトコルまで
LTE端末のRF性能の試験方法は3GPP TS36.521-1で規定されます。その中から主要な送信試験および受信試験について取り上げ、解説します。 また、通信パラメータの設定と消費電流の関係など、端末開発の現場で必要となる試験についても紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 小薮哲夫
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2B4] 14:05~14:55
いよいよ次の段階へ…変調解析の新たな形
位相変調などの複雑な変調方式やコヒーレント伝送技術を用いた40/100G光ネットワークがいよいよ実用段階となってきています。それにともない、さらなる次世代の研究開発、もしくは実用化にともなう製品製造検査など、新たな測定要求が生まれてきています。アジレントでは、いち早くそうした新たな測定要求に対応し、お客様のビジネスへの貢献に努めます。本セッションではそうした当社の新しいソリューションを紹介するとともに、実際にそうしたソリューションを用いた実例なども紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 山口修司
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2C4] 14:05~14:55
最新トレンド ~オシロスコープ上での波形観測点移動
実際に観測したいポイントとプロービング可能なポイントが異なることはしばしばあります。 特に信号が高速になると、測定ポイントにより波形は大きく異なるので満足の行く評価ができません。 オシロスコープ上に伝送路や送受信デバイスの特性をSパラメータという形でインポートし、 観測点を移動させるのが現在一つのトレンドです。本セッションでは具体的な観測点移動の方法、 注意点、事例をご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 依田達夫
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2E3] 14:20~15:10
スマートフォンやタブレットにおける MIPI と MHL の測定手法
スマートフォンやタブレット等の新しいモバイル機器の普及に伴い、映像データの大容量化が加速度的に進んでいます。これらのデータを高品質に取り扱う要求にこたえるために、高速デジタル信号によるデータ伝送が不可欠です。HDMI や DisplayPort(eDP)、MIPI D-PHY など既存の伝送技術に加え、MHL などの新しい規格の採用が積極的に進んでいます。モバイル機器に採用される映像伝送規格について、その測定方法と評価・検証のポイントをまとめてご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 長嶺銀河
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2F4] 14:20~15:10
校正手法のあくなき進化! ネットアナ使用方法の新パラダイム
ネットワーク・アナライザの校正は測定と同じ条件で行わなければならない、 それがこれまでの常識でした。弊社はこのパラダイムを覆し、広帯域の校正基準器で一度校正するだけで様々な周波数範囲を同時にカバーする新たな手法を開発して、劇的な工数の削減を実現しました。また測定と校正の条件を分離し、それぞれ最適な条件で実施することでより良い測定結果を得るという新たな視点を提示します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 大沼克己
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯5  
[2D4] 14:55~15:45
USB3.0は、こう測れ!USB3.0評価とチャレンジ
「Intel社の新チップセット、USB3.0を標準搭載」「Windows 8でのUSB3.0サポート決定」などを背景に、USB3.0は急速にその市場を拡大していくものと期待されています。 このセッションでは、将来USB3.0搭載を見据えていかなければいけないお客様、これから開発をスタートされるお客様に向けて、USB3.0では何がチャレンジになるのか、どのような測定が必要になるのか、物理層測定からプロトコル測定までトータルソリューションを説明いたします。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 林徳義
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2A5] 14:55~15:45
MIMO性能を担保する: OTA規格動向と測定システム
スマートフォンの台頭により、ますますデータ通信のニーズが高まるとともに高速化・大容量化も求められており、次世代の技術の核となるMIMO技術の開発にも注目が集まっております。 3GPP RAN4でも2012中にMIMO OTAのコンフォーマンス・テスト標準を策定中です。 本セッションでは3GPP規格のアップデート及び弊社のMIMO測定に対する取り組みを紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 吉田生
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2C5] 15:10~16:00
その無線モジュール、設計通りの性能出てますか?
無線通信システムの設計・開発を、より短期間に低コストで実現するには、 最終システムを想定した検証を早い段階で行うことが重要です。特に 最新規格や独自方式のRFシステムでは、信号処理部分とRF部を 融合したシステム・シミュレーションによって物理層の全体像を把握して おくことが、スムーズな実測評価に繋がります。 本セッションでは、802.11acをテーマに、設計~実装~評価を効率良く 進めるためのシステム・レベル・シミュレータ活用法をご紹介します。 規格準拠の信号生成や送受信のRF特性を含んだBER測定など、 単なるシミュレーションを超えた実測との融合を実例を交えてご紹介します。
弊社 電子計測本部 第3営業統括部EDAアプリケーションエンジニアリング 飯野浩二
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2E4] 15:25~16:15
コヒーレント光通信を支える光コンポーネント測定技術
位相変調などの複雑な変調解析技術と並び、現在の広帯域ネットワークをささえる技術にコヒーレント検波技術があります。本セッションでは、このコヒーレント検波技術を実現するための様々な測定課題、およびそれら課題に対するアジレントの提案をご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 竹嶋茂樹
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2F5]] 15:25~16:15
実動作状態でのTDRインピーダンス測定ができる!    - 最新の設計評価手法
デジタル信号の高速化によりデバイスと伝送路の不整合による多重反射の影響が顕在化してきており、今まで測定が困難であった動作状態でのデバイスの特性測定を行うニーズが高まっています。 また、オシロスコープに実装された観測点移動機能において伝送路特性だけではなく受信ICの特性を与えることにより精度向上が図れるため、動作状態でのデバイスの特性測定が重要になってきます。 本セッションでは動作状態でのデバイス測定の紹介を行うと共に、観測点移動の基本動作をシミュレータを用いながら解説し事例紹介を行います。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 青木秀樹
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

時間帯6 
[2A6] 16:00~16:50
V-by-One®HS概要~次世代高速ビデオ・インターフェース
映像・画像機器の高速化と低コスト化に伴い、多くの分野で親しまれているLVDSインターフェースも 変革の時を迎えております。本セミナーではポストLVDSとして規格化されたV-by-One®HSの開発に至る 背景と開発コンセプト、本方式の解説ならびに評価事例を通じてV-by- One®HSに対する理解を深めて頂きます。 合わせてV-by-One HSのアイパターン、イコライザ評価などの測定ソリューションもご紹介します。
ザインエレクトロニクス株式会社 製品企画部 製品企画グループ  山本周平 様

ダウンロード
アジレントテキストのみ)(要ログイン)
 

[2D5] 16:00~16:50
ライバルに差をつけるトレーサブルなSパラメータ測定 
ライバルに差を付けるには、測定の信頼性、すなわちトレーサビリティの確保が欠かせません。しかし、校正キットとネットワークアナライザを校正さえすればSパラメータのトレーサビリティが確保されていると誤解しているユーザーを多く見かけます。そこではじめに、Sパラメータ測定のトレーサビリティに関する最新の考え方を、IEEE 378 Working Group に日本から参加されている産業技術総合研究所堀部様の資料を用いて説明いたします。次に、この最新の考え方を実現するための方法を、弊社製品を例に使って紹介します。最後に弊社サービスセンタが、どのようにSパラメータ測定においてトレーサビリティを確保しているか実施例を見て頂きます。
弊社 電子計測サービス部門 青木俊明
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2B5] 16:15~17:05
PCI Expressの最新動向と測定事例
PCI ExpressはGen3対応製品が一部既に市場投入され、製品開発が日本でも今年から本格化する見込みです。一方でPCI-SIGによる公式試験の開始が遅れており、準備状況が懸念されるところです。本セッションではPCI Express技術の最新動向をPCIe3.0を中心に解説し、さらに実機評価の実施例についてもご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 荒井信隆
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2C6] 16:15~17:05
LTE用チップセット開発の取組とRFICの設計事例
ルネサスモバイルにおけるLTE対応のプラットフォームの取り組みおよび、開発戦略についての紹介。 LTE対応のプラットフォーム開発で重要な位置づけにあるRFICの開発は従来の製品と比較し、周波数バンドサポート数、周波数帯域幅、回路集積規模の増加により、設計効率の向上が必用不可欠となっている。 このRFICの開発にあたりSystemVue、Golden Gate、Momentumを活用した回路設計および、レイアウト、パッケージ、基板を含んだ設計解析事例を紹介する。
ルネサス モバイル株式会社 モバイルマルチメディア事業本部 SoC事業部エグゼクティブ  田中聡 様
公開できませんので
ご了承ください
[2E5] 16:30~17:20
アジレント光測定技術のベースとなるコア・テクノロジー
アジレントにおける中央研究所は、高度な測定要求の基礎となる技術を開発し、次世代のお客様のニーズにお応えすることを使命としています。光通信アプリケーションにおいては、とどまるところをしらない大容量化への要求にしたがい、コンポーネントや信号そのものの品質評価がますます高度化する傾向にありますが、本セッションでは、この光通信アプリケーションにおいて、複雑な変調方式の解析手法など、現在および将来のお客様の要求にお応えする様々な活動に焦点をあてます。
Agilent Measurement Research Lab. Doug Baney
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ

[2F6] 16:30~17:20
これで完璧!DDRメモリ規格の正しい理解と最新の評価手法
高性能なシステム実現に不可欠なDDRメモリですが、高速化によってトラブルも増加しており、波形確認はもはや常識となっています。では、信号をどう評価したらよいのでしょうか?トラブルが起きても困らないためには、規格を正しく理解し、測定のポイントをおさえておくことが重要です。本セッションでは、JEDECのDDRメモリ規格をわかりやすく解説し、測定のポイントと、測定・評価を簡単に行う最新のソリューションをご紹介します。
弊社 電子計測本部アプリケーションエンジニアリング部 佐貫聡信
ダウンロード
(要ログイン)

お問い合わせ