このニュースは、テクニカルサポートのニュースレターを受け取られていた方、

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いただいた方にお送りしております。

うまく表示されない場合はこちらからご覧ください。

http://jp.tm.agilent.com/tmo/edm/EDA/newsletter22/newsletter22.html

 

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  Agilent Technologies EEsof EDAユーザ向けメールマガジン(2010915日)

 

                  Agilent EEsof しみゅレター (Vol.22)

 

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■今月のトピックス

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【技術情報・アプリケーション情報】

 ●電磁界解析アプリケーション・シリーズ:

   PI解析に向けたマルチパワーSBGAパッケージの解析(実測比較込み)

 ●1/fノイズの発生原理から測定まで

 

【新リリース情報】

 ●IC-CAP 2010.08バージョン・リリース:

   多点計測に向けた制御の効率化&新MOSモデル・バージョン対応

 ●GENESYS2010.05リリース:

   最適化スピードが大幅に高速化、X-パラメータにも対応

 

【イベント情報】

 ●アジレントEDAフォーラム2010

   - 1022日(金):Dr. Root氏、 WIN Semiconductors様、 nVIDIA様による

    セッションをADSなどアジレントEDAの最新情報も盛り込んでお届け

 

 ●大好評!ギガビット伝送時代のSI/PI/EMI対策セミナ

   - 追加開催:1025日(月)・28日(木)

 

【しみゅレターに掲載された内容についてのお問い合わせはこちら】

http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter-question

 

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【技術情報・アプリケーション情報】

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●電磁界解析アプリケーション・シリーズ:

  PI解析に向けたマルチパワーSBGAパッケージの解析(実測比較込み)

 

 PI対策において重要となるパッケージの特性評価を3次元電磁界シミュレータ

 EMProを用いて解析した例を実測結果との比較とともにご紹介いたします。

 詳細は下記サイトの13番目の項をご参照ください。

 

詳細はこちら: http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter22-1

 

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1/fノイズの発生原理から測定まで

 

 プロセスの微細化による低電圧化は、信号振幅低下をともないS/N比劣化を

 もたらします。このため、ノイズレベルの低減が必要となり、1/fノイズ測定の

 要求がますます高まっております。1/fノイズの発生原理から測定方法に

 関することまでをまとめた資料が「テクニカルサポート・日本語技術資料」に

 掲載されておりますので、これから1/fノイズについて勉強される方に

 お役立ていただければと存じます。

 

詳細はこちら: http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter22-2

 

上記にアクセスできない場合はこちらから:

http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter22-3

 

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【新リリース情報】

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IC-CAP 2010.08バージョン・リリース:

  多点計測に向けた制御の効率化&新MOSモデル・バージョン対応

 

 より正確なモデルの創出に向けた、プローバ制御も含む新計測制御環境

 (計測制御の設定の手間を大幅に削減)のリリースおよび、HiSIMモデルの

 新バージョンへの対応、マルチポート・デバイスへの対応、2トーン・ハーモニック

 バランス対応など、機能強化がなされました。

 

詳しくはこちら: http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter22-4

 

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GENESYS2010.05リリース:

  最適化スピードが大幅に高速化、X-パラメータにも対応

 

 パーソナル高周波回路シミュレータGENESYSの新バージョンがリリース

 されました。本バージョンでは、最適化のスピードが大幅にアップしている

 とともに、X-パラメータサポート、電磁界解析機能の向上など大幅に機能強化が

 なされています。

 

詳しくはこちら: http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter22-5

 

GENESYS 関連のYou Tubeビデオはこちらからご覧いただけます:

http://www.youtube.com/user/AgilentEEsof#g/c/20B8D0B20980AA06

 

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【イベント情報】

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●アジレントEDAフォーラム2010

  - 1022日(金):Dr. Root氏、 WIN Semiconductors様、 nVIDIA様による

  セッションをADSなどアジレントEDAの最新情報も盛り込んでお届け

 

 毎年恒例の高周波回路設計EDAフォーラムを1022日(金)、新宿NSビルにて

 開催します(参加無料)。今回は、WIN Semiconductorのファンダリ技術や

 PDK技術に関するセッション、nVIDEA様によるアクセラレータを活用した

 高速電磁界解析、Dr. Root氏によるX-パラメータのUpdateと今後など

 テクニカルセッションを、ADS、GoldenGate、EMProなどアジレントソリューションの

 アップデート情報とともにお届けいたします。

 

詳細およびお申込みはこちら:https://www.appnavi.jp/public/seminar/view/351

 

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●大好評!ギガビット伝送時代のSI/PI/EMI対策セミナ

  - 追加開催:1025日(月)・28日(木)

 

 4月、7月と2度にわたって実施いたしましたSI/PI/EMI対策を取り上げた

 セミナイベントが、好評のため追加開催が決定しました。

 1025日(月):新大阪、28日(木):東京八王子にて開催します。

 

詳細およびお申込みはこちら:https://www.appnavi.jp/public/seminar/view/352

 

 

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■しみゅレターに掲載された内容についてのお問い合わせはこちら

http://www.agilent.co.jp/find/EDAnewsletter-question

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製品やサービスに関するお問い合わせ: 計測お客様窓口

TEL0120-421-345(042656-7832) http://www.agilent.co.jp/find/contactus

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