MOSデバイスモデリング 体験セミナー
~ウエハ測定・モデル抽出・検証 プラットフォームの体験~


 

オート/セミオートプローバで自動の測定から、BSIM3/4, HiSIM などのモデルパラメータ抽出、各シミュレータでの検証、レポート作成まで、すべてを実現するプラットフォームを体験いただくセミナーです。 

■受講対象者

  • MOSデバイスの測定にかかわっており、測定時間、データ検証の工数を削減したい方
  • MOSデバイスのモデリングにかかわっており、抽出精度、抽出時間などを改善したい方
  • 測定データ、抽出データの検証、レポート作成の工数を減らしたい方  

概要

本セミナーでは、BSIM4 モデルを抽出するフローを題材として、モデルパラメータ抽出、検証、レポート作成を体験いただきます。工数を減らしつつ精度を高める為の方法、ツールをご紹介します。

  • Keysight モデルパラメータ抽出、検証プラットフォームの概要
  • IC-CAP/WaferPro のご紹介
  • シリコンモデルパラメータ抽出プラットフォーム MBP の紹介と体験
  • モデル検証プラットフォーム MQA の紹介と体験

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関連情報
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Keysight EEsof EDA Device Modeling Design Flow How to Make Accurate, Automated RF Wafer-Level Measurements Advanced Low-Frequency Noise Analyzer Overview How to Model a BJT Bipolar Junction Transistor
 
  ◆お申し込み◆
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admin-team_aeo-japan@keysight.com までご連絡ください。>>
 
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