MOSデバイスモデリング 体験セミナー
~ウエハ測定・モデル抽出・検証 プラットフォームの体験~


 

オート/セミオートプローバで自動の測定から、BSIM3/4, HiSIM などのモデルパラメータ抽出、各シミュレータでの検証、レポート作成まで、すべてを実現するプラットフォームを体験いただくセミナーです。 

■受講対象者

  • MOSデバイスの測定にかかわっており、測定時間、データ検証の工数を削減したい方
  • MOSデバイスのモデリングにかかわっており、抽出精度、抽出時間などを改善したい方
  • 測定データ、抽出データの検証、レポート作成の工数を減らしたい方  

概要

本セミナーでは、BSIM4 モデルを抽出するフローを題材として、モデルパラメータ抽出、検証、レポート作成を体験いただきます。工数を減らしつつ精度を高める為の方法、ツールをご紹介します。

  • Keysight モデルパラメータ抽出、検証プラットフォームの概要
  • IC-CAP/WaferPro のご紹介
  • シリコンモデルパラメータ抽出プラットフォーム MBP の紹介と体験
  • モデル検証プラットフォーム MQA の紹介と体験

関連Movie

関連情報
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• 電子計測 イベント/セミナー・カレンダー

 

Keysight EEsof EDA Device Modeling Design Flow How to Make Accurate, Automated RF Wafer-Level Measurements Advanced Low-Frequency Noise Analyzer Overview How to Model a BJT Bipolar Junction Transistor
 
  ◆お申し込み◆
 
下記は現在開催しておりませんが、テキストをご参照いただけます

お申し込みの確認は、計測お客様窓口 TEL:0120-421-345または0426-56-7832 (土日祭日を除く9:00~18:00)、
またはEメール:contact_japan@keysight.comまでご確認ください。

 受講希望コース  (その他のコースは、【無料】EDA体験セミナー一覧 をご覧ください。)

注:ブラウザの更新ボタンを押し、最新の情報を確認後にお申込みください。

複数名受講される場合は、お手数ですがお一人ずつ本フォームを使ってお申し込みください。 
定員になり次第締め切らせていただきます。お早めにお申し込みください。
※同業他社の方、および個人の方のご参加は、お断りさせて頂く場合がございます。

 
コース名 日程 価格 会場 定員 お申し込みフォーム
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