基板の影響を考慮したインバータ・コンバータ設計 体験セミナ

~電磁界解析を利用し、配線のインダクタンスを算出~
   
 

コンバータ・インバータの設計では、効率化や小型化に向けたスイッチング周波数の上昇により、ノイズやカップリングなど高周波特性に関する問題が深刻化しています。 SiCやGaNなどの立ち上がりの早いデバイスの利用により、更に設計精度が求められるようになっています。この体験セミナでは、キーサイトADSを用い、レイアウトと回路を合わせたシミュレーションによるコンバータ・インバータ回路解析を体験して頂きます。

受講対象者

  • インバータ・コンバータの設計に基板特性を反映し、解析精度を上げたい方
  • 基板パターンの寄生インダクタンスの見積もり精度を上げたい方
     

内容

0.キーサイトEDAの概要

1.サージ発生のメカニズム
 - インダクタンスとFETの立ち上がり時間の関係

2.レイアウトと実装のノイズへの影響
 - 基板の部品配置を変えて出力ノイズの変化を観察します。

3.ゲート・サージ電圧
 - ゲート・ドライブ回路からパワートランジスタまでの
  配線の影響を観察します。

4.寄生インダクタンスの見積もり方法
 - Sパラメータから等価回路を作成、インダクタンスを
  算出します。

5.Momentumによる解析
 - 基板のレイアウトデータをADSにインポートして、
  Momentumにより基板の特性を把握します。


◆お申し込み◆

   
  お申し込みの確認は、計測お客様窓口 TEL:0120-421-345または0426-56-7832 (土日祭日を除く9:00~18:00)、またはEメール:contact_japan@keysight.comまでご確認ください。



 受講希望コース  (その他のコースは、【無料】EDA体験セミナ一覧 をご覧ください。)

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複数名受講される場合は、お手数ですがお一人ずつ本フォームを使ってお申し込みください。 
定員になり次第締め切らせていただきます。
お早めにお申し込みください。
※同業他社の方、および個人の方のご参加は、お断りさせて頂く場合がございます。

各日8名

関連情報
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コース名 日程 価格 会場 定員 お申し込みフォーム
基板の影響を考慮した
インバータ・コンバータ設計体験セミナ
2015/07/31 (金)
13:00-17:00
満席・キャンセル待ち
無料(事前登録制) 新横浜 8名 お申し込みフォーム
2015/09/02 (水)
13:00-17:00
無料(事前登録制) 新横浜 8名
2015/09/30 (水)
13:00-17:00
無料(事前登録制) 新横浜 8名
2015/10/26 (月)
13:00-17:00
無料(事前登録制) 新横浜 8名
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